P1000 相位延遲測(cè)量?jī)x核心技術(shù)獲國(guó)家技術(shù)發(fā)明二等獎(jiǎng)

我司參與起草國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 26827-2011 波片相位延遲測(cè)量裝置的校準(zhǔn)方法》

LP1000相位延遲測(cè)量?jī)x是鐳測(cè)可溯源雙折射測(cè)量主力機(jī)型，主要用于精密標(biāo)定，可精準(zhǔn)測(cè)量各類光學(xué)元件的內(nèi)應(yīng)力與相位延遲量。

適配光學(xué)波片、光學(xué)玻璃、顯示屏面板、晶體等透光材料檢測(cè)，系統(tǒng)配套專業(yè)位移平臺(tái)、溫度補(bǔ)償模塊，可定制非標(biāo)掃描測(cè)量方案。

五大核心產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)

基準(zhǔn)可溯源：測(cè)量量值溯源至激光波長(zhǎng)國(guó)家長(zhǎng)度基準(zhǔn)，數(shù)據(jù)可計(jì)量、可校驗(yàn)，解決傳統(tǒng)設(shè)備無(wú)校準(zhǔn)依據(jù)痛點(diǎn)；

全域測(cè)量范圍：覆蓋 0°~180°全區(qū)間相位延遲，大小應(yīng)力、高低相位差均可精準(zhǔn)檢測(cè)；

多波長(zhǎng)換算適配：633nm 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量波長(zhǎng)下，可自動(dòng)換算任意目標(biāo)波長(zhǎng)對(duì)應(yīng)的波片相位差值；

弱透光件兼容：可完成透光性較差光學(xué)元件的應(yīng)力、相位延遲檢測(cè)，適用材料范圍更廣；

高精度溫度補(bǔ)償：內(nèi)置溫度傳感系統(tǒng)，實(shí)時(shí)采集樣品溫度，自動(dòng)修正溫度帶來(lái)的波片相位誤差；

精準(zhǔn)硬件參數(shù)指標(biāo)

應(yīng)用領(lǐng)域

1. 光學(xué)波片精密檢測(cè)

四分之一波片、半波片、全波片、3/4 波片相位延遲批量標(biāo)定與出廠質(zhì)檢，科研院所波片研發(fā)校準(zhǔn)。

2. 光學(xué)晶體 / 寶石檢測(cè)

各類人工晶體、天然寶石內(nèi)部應(yīng)力分布、相位延遲定量分析。

配套服務(wù)

計(jì)量校準(zhǔn)：整機(jī)年度計(jì)量校準(zhǔn)服務(wù)，匹配國(guó)標(biāo) GB/T 26827-2011 校驗(yàn)規(guī)范；

技術(shù)支持：上門安裝調(diào)試、操作人員培訓(xùn)、售后遠(yuǎn)程技術(shù)指導(dǎo)；

精度升級(jí)：可按需定制更高重復(fù)精度機(jī)型。